超聲波無損探傷檢測(cè)中缺陷定位及計(jì)算方式

超聲無損檢測(cè)缺陷定位計(jì)算及分析

無損探傷檢測(cè)設(shè)備對(duì)超聲信號(hào)完成了降噪處理后，可以清晰地分辨出缺陷信息的波形，并觀察波形可以發(fā)現(xiàn)，超聲信號(hào)的缺陷信息部分為一些突變信號(hào)，并且這些突變之間不存在規(guī)律性。在進(jìn)行檢測(cè)時(shí)通過波形的觀察，可以發(fā)現(xiàn)在檢測(cè)時(shí)，產(chǎn)生的突變信號(hào)就說明該工件存在缺陷，突變?cè)蕉鄤t說明工件存在的缺陷越多。

采用超聲顯示中的 A 型顯式，利用降噪處理后的信號(hào)對(duì)缺陷進(jìn)行定位計(jì)算，我們可以根據(jù)橫軸中超聲波傳播時(shí)間，可以推算出該缺陷在工件中的深度，即距離超聲探測(cè)面的距離。當(dāng)缺陷距離探測(cè)面越遠(yuǎn)時(shí)，檢測(cè)相對(duì)誤差越小，可以看出 1 號(hào)缺陷的相對(duì)誤差最大，說明在實(shí)際檢測(cè)過程中存在固定誤差，當(dāng)缺陷與探測(cè)面距離較近時(shí)，固定誤差值占缺陷深度值較大，當(dāng)缺陷與探測(cè)面距離較遠(yuǎn)時(shí)，固定誤差值占缺陷深度值較小，因此相比較不同缺陷，當(dāng)缺陷越深，相對(duì)誤差越小。

對(duì)于存在的誤差有以下幾種原因：

（1）試驗(yàn)誤差：在進(jìn)行試驗(yàn)過程中，對(duì)于時(shí)間測(cè)量有一定的誤差，因此對(duì)工件的缺陷精度定位時(shí)存在誤差；（2）探頭的選取：探頭的頻率不同，會(huì)對(duì)信號(hào)產(chǎn)生影響，從而造成一定的誤差；

（3）降噪過程中，處理后的信號(hào)波形使計(jì)算時(shí)產(chǎn)生了一定程度的定位誤差。

最小發(fā)射信號(hào)

在無損探傷檢測(cè)中，當(dāng)系統(tǒng)確定時(shí)，缺陷越小，反射信號(hào)越小。最小發(fā)射信號(hào)的測(cè)試，可以為定量計(jì)算提供依據(jù)，以便定量分析時(shí)，根據(jù)超聲探頭的靈敏度，計(jì)算缺陷的最小檢測(cè)值。在檢測(cè)時(shí)，由于發(fā)射電壓不同導(dǎo)致信號(hào)幅值有所變化，在利用算法處理時(shí)，會(huì)使較弱的信號(hào)被視為噪聲信號(hào)被處理，從而無法獲取準(zhǔn)確的波形信息。因此針對(duì)本課題，需要分析在不同電壓下，檢測(cè)信號(hào)通過算法處理能否保留有效信息。